设备型号：JEM 2100F（日本，日本电子）

购置时间：2008年

主要配件：

冷场发射

CCD（型号：894）

能谱（型号：Oxford TEM200）

主要性能：

电压范围：0—200KV

放大倍数：80—100万倍

点分辨率：0.19nm

线分辨率：0.10nm

可鉴定的成分：Be--U

设备用途：形貌观测、结构分析、晶粒分布、成分鉴定

使用方式：

预约。在仪器负责人指导下，由经过培训并掌握基本操作方法的人，自行上机观测。

设备位置：待安装

备注：仪器未到货。