网站地图 | 联系方式 | 设为首页 | English | 中国科学院
首页 概况 科研成果 科研装备 人才队伍 院地合作 国际合作 研究生教育 文化 党建 公共服务 科学传播 人才招聘
 
  所内邮箱  
用户名:
密 码:
 
所长信箱   留言信箱
支撑部门
  信息中心
  测试中心
  精密加工
  精密加工中心
  低温计量站
  抗菌检测中心
  基建部
现在位置: 首页 > 支撑部门 > 测试中心
X射线粉末衍射仪
发表日期: 2008-05-04
打印 字体大小: 关闭
  

设备型号D8 Focus (德国,Bruker)

购置时间2008

主要配件:即插即用Goebel镜,林可斯阵列探测器,电制冷Si(Li)固体探测器

主要性能指标:

X射线发生器最大输出功率:≥2.2kW

X光管类型:Cu靶,陶瓷X光管,功率:2.2kW

扫描方式:q/2q测角仪,测角仪垂直放置

2q转动范围:-110°~168°

可读最小步长:0.0001°

角度重现性:0.0001°

驱动方式:步进马达驱动 + 光学编码器

最高定位速度:1500°/min

固体探测器:锂漂移硅,能量色散型,能量范围:2 keV - 30 keV,能量分辨率:DE £ 350 eV。提供高信噪比及高分辨率的数据。

林可斯阵列探测器:192个通道,动态范围:1 x 109 cps,最大计数:>4 x 107 cps,背景:低于0. 1 cps,能量分辨率:25%,探测效率:>98%。进行样品的快速测量。

 

设备用途:用于物相定性、定量、结晶度、晶粒大小、微观应力、点阵参数测定、界孔材料、薄膜材料物相分析等。

使用方法:请到仪器室预约登记,仪器管理员安排具体测试时间。一般的测试由经过测试中心培训的研究人员自己操作,小角和平行光的测试,由仪器管理员操作。需要参加使用培训的人员,请与仪器管理员联系。

设备位置:1号楼106 A.
仪器管理员:王辉
办公室电话:82543458
仪器室电话:3463
 

 

 

评 论
  版权所有:中国科学院理化技术研究所 Copyright © 2002-2008
地址:中国.北京 京ICP备05002791号